影響(xiang)K型熱電偶測(cè)溫的兩種因(yin)素

1、短(duan)程有序結構(gòu)變化(K狀态)的(de)影響K型熱電(dian)偶在250℃—600℃溫度範(fan)圍内使用時(shí)，由于其顯微(wei)結構發生變(biàn)化，形成短程(cheng)有序結構，因(yīn)此将💘影響熱(rè)電勢值而産(chǎn)生誤差，這就(jiu)是所謂的K狀(zhuang)态。它是Ni—Cr合金(jīn)特有的晶格(gé)變化，當Cr含量(liàng)在5—30%範圍内存(cun)在着原子晶(jīng)格的有序無(wu)序轉變。由⭐此(ci)而引起的🏃🏻誤(wù)差，因Cr含量及(ji)溫度的不同(tong)而變化。将K型(xing)熱電偶從300℃加(jia)熱至800℃，每50℃取一(yī)點，測量該點(diǎn)電勢。在450℃時偏(pian)差最大可達(dá)4℃，在350—600℃範圍内，均(jun)爲正偏差。由(you)于K狀态的存(cun)在，使K型熱電(dian)偶在🌍升溫或(huo)降溫檢定結(jié)果不一緻，故(gu)在廉金屬熱(re)電偶檢定規(gui)程中明文規(guī)定檢定順序(xu)：由低溫向高(gao)溫💘逐點升溫(wēn)檢定。而且在(zài)400℃檢定點，不僅(jǐn)傳熱效果不(bú)佳，難以達到(dào)熱平衡，而且(qiě)，又恰好處💚于(yu)K狀态誤差最(zuì)大範圍。因此(ci)，對🙇🏻該點判定(dìng)合格與否😘時(shi)應很慎重。Ni—Cr合(he)金短程有序(xù)結構變化的(de)🔆現象，不僅存(cún)在于K型，而且(qie)，在E型🔆熱電偶(ou)正極中💋也有(yǒu)此現象。但是(shì)，作爲變化量(liang)E型熱電偶僅(jin)爲K型的2/3。總之(zhi)，K狀态與溫度(du)、時間有關，當(dang)溫度分布或(huo)熱電偶位置(zhì)變化時，其偏(pian)差也會發🎯生(shēng)很大變化。故(gù)難以對偏差(chà)大小作出♍準(zhun)确評價。